PREMIOS DE LA SIF A LOS MEJORES TRABAJOS FIN DE ESTUDIOS CURSO 2012-13

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El plazo para la presentación de candidatos a los premios a los mejores trabajos fin de estudios del curso 2012-2013 termina el próximo 31 de diciembre.

A la convocatoria de este año se añade un cuarto premio, mención especial de la Asociación Española de Fabricantes de Maquinas-Herramienta (AFM), que es patrocinado por esta asociación. Este nuevo premio se otorgará al mejor trabajo relacionado con el sector de máquina-herramienta, componentes, herramientas y accesorios; pudiendo optar al mismo aquellos trabajos que  se hayan  realizado en una empresa asociada a AFM o que traten una temática que pueda redundar en beneficio de una empresa asociada a AFM.

A los premiados o premiadas se les otorgará, en acto público, un diploma acreditativo y  350 euros. El acto de entrega, organizado conjuntamente por la SIF y la AFM,  se anunciará con suficiente antelación.

El reglamento que regula los presentes premios se puede encontrar en este link (reglamento).

También podéis descargar el modelo de solicitud en este link (modelo solicitud) y enviarlo al correo:

secretaria@sif-mes.org

XXII Congreso Universitario de Innovación Educativa en las Enseñanzas Técnicas

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En el próximo CUIEET se celebrará el IV Simposio Especial  sobre Nuevas Fronteras en la Enseñanza-Aprendizaje de Ingeniería de Fabricación y Tecnologías de Procesado de Materiales bajo el patrocinio de la SIF. Como es habitual, los trabajos aceptados se publicarán, tras una segunda revisión por pares, en un número especial de Materials Science Forum.

El CUIEET tendrá lugar durante los días 17 a 19 de septiembre de 2014 en la Universidad de Castilla -La Mancha

Puedes contactar con la organización del congreso a través de la dirección de correo: congreso.cuieet2014@uclm.es

4th International Conference on Surface Metrology

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Nos ha llegado información a través de nuestros compañeros de Vigo y Zaragoza del anuncio del  4º  congreso de  Metrología de Superficie que tendrá lugar en Hamburgo del 10 al 13 de marzo del 2014.

Más información en http://www.biologie.uni-hamburg.de/zim/icsm2014/

Fechas importantes

 

October 15th 2013: abstracts for tutorials

November 15th 2013: abstracts for oral presentations

December 15th 2013: Abstracts for poster presentations and exhibits

April 15th 2014: full papers or extended abstracts for conference volume

La Jornada sobre Metrología Dimensional y Normalización GPS contó con una buena asistencia

El pasado dia 8 de noviembre del 2013 tuvo lugar, en la sede de AENOR (Madrid), la Jornada Técnica sobre Metrología Dimensional y Normativa GPS (Geometrical Product Specification).

La presentación corrió a cargo de D. Avelino Brito, Director General de AENOR, y de D. Fernando Romero, Presidente de la SIF.

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La primera conferencia , “Introducción a la normalización GPS”, la impartió Dña. Cristina Hernán de AENOR

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Conferencia disponible en el presente link “Introducción a la normalización GPS”

La segunda conferencia corrió a cargo de Dña. Marian Saenz, de la Universidad de Comillas, bajo el título “Acotación funcional en 3D según la normativa GPS”.

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Se puede ver la ponencia en el link “Acotación funcional en 3D según la normativa GPS”

La tercera conferencia corrió a cargo de Dña. Laura Carcedo, del Centro Español de Metrología, y tuvo por título”Rugosidad 3D en micro-nanometrología”

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Puede leerse la ponencia en el link “Rugosidad 3D en micro-nanometrología”

Finalmente se celebró una mesa redonda presidida por D. Angel Maria Sanchez Pérez y en que también participaron  D. Juan José Aguilar, Dña. Cristina Hernán, Dña. Marian Saenz y Dña. Laura Carcedo.

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La asistencia fue muy buena.

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Los videos de la jornada podeis reproducirlos a continuación

Presentación a cargo de D. Avelino Brito y D. Fernando Romero

Dña. Cristina Hernán de AENOR

Dña. Marian Saenz de la Universidad de Comillas

Dña. Laura Carcedo del Centro Español de Metrologia (CEM)

El desarrollo de la mesa redonda se puede visualizar a continuación: