Jornada Técnica sobre Metrología Dimensional y Normalización GPS (Geometrical Product Specification)

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Se celebrará el próximo 8 de noviembre de 10,30 a 14.30 hrs en la sede de AENOR Salas 1.1 y 1.2 , calle Génova 6,en Madrid.

La jornada tiene por objetivo presentar los  últimos avances que se han producido en el marco normativo GPS, con la idea de sensibilizar a profesores universitarios y profesionales sobre la importancia que tiene esta norma para el futuro de muchos sectores industriales.

Para ello se ha preparado el siguiente programa (provisional):

1.- Inauguración de la Jornada
2.- Introducción a la normalización GPS (La imparte Dña. Cristina Hernán – AENOR)
3.- Acotación funcional en 3D según la normativa GPS (la imparte Dña. Marian Sáenz – Universidad de Comillas)
4.- Rugosidad 3D en micro-nanometrología (la imparte Dña. Laura Carcedo – CEM)
5.- Mesa redonda
La inscripción se realizará a través del moodle de la SIF (en el siguiente link) y dado el aforo limitado se adjudicarán las plazas  por orden de inscripción.
Instrucciones de acceso:
Acceder como usuarios con el correo electronico y la contraseña el mismo correo (ya que inicilmente se ha hecho coincidir con su email  el usuario para acceder al Moodle).
Como es el primer acceso al Moodle-SIF de los usuarios, éstos deben cambiar obligatoriamente la contraseña.
Una vez cambiado el password se accede a una encuesta en la que se marca la solicitud de acceso a las jornadas de metrología.
FECHAS IMPORTANTES:
fecha límite de inscripción para socios de la SIF, 31 de octubre del 2013
fecha de inscripción de otros colectivos desde el 3 de octubre hasta el 31 de octubre