La Jornada sobre Metrología Dimensional y Normalización GPS contó con una buena asistencia

El pasado dia 8 de noviembre del 2013 tuvo lugar, en la sede de AENOR (Madrid), la Jornada Técnica sobre Metrología Dimensional y Normativa GPS (Geometrical Product Specification).

La presentación corrió a cargo de D. Avelino Brito, Director General de AENOR, y de D. Fernando Romero, Presidente de la SIF.

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La primera conferencia , “Introducción a la normalización GPS”, la impartió Dña. Cristina Hernán de AENOR

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Conferencia disponible en el presente link “Introducción a la normalización GPS”

La segunda conferencia corrió a cargo de Dña. Marian Saenz, de la Universidad de Comillas, bajo el título “Acotación funcional en 3D según la normativa GPS”.

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Se puede ver la ponencia en el link “Acotación funcional en 3D según la normativa GPS”

La tercera conferencia corrió a cargo de Dña. Laura Carcedo, del Centro Español de Metrología, y tuvo por título”Rugosidad 3D en micro-nanometrología”

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Puede leerse la ponencia en el link “Rugosidad 3D en micro-nanometrología”

Finalmente se celebró una mesa redonda presidida por D. Angel Maria Sanchez Pérez y en que también participaron  D. Juan José Aguilar, Dña. Cristina Hernán, Dña. Marian Saenz y Dña. Laura Carcedo.

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La asistencia fue muy buena.

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Los videos de la jornada podeis reproducirlos a continuación

Presentación a cargo de D. Avelino Brito y D. Fernando Romero

Dña. Cristina Hernán de AENOR

Dña. Marian Saenz de la Universidad de Comillas

Dña. Laura Carcedo del Centro Español de Metrologia (CEM)

El desarrollo de la mesa redonda se puede visualizar a continuación: