JORNADA SOBRE METROLOGÍA DIMENSIONAL Y NORMALIZACIÓN

Imatge GPS

Se ha fijado la fecha y el lugar para la celebración de la Jornada Técnica sobre Metrología Dimensional y Normalización GPS (Geometrical Product Specification). Esta se celebrará  el 8 de noviembre, de 1o:30 a 14:30 horas, en la  sede de AENOR en Madrid.

La jornada técnica tiene por objetivo divulgar los avances normativos que se han producido en los últimos años en el marco del desarrollo normativo GPS y urgir la necesidad de mejorar el conocimiento que sobre las misma se tiene en ámbitos académicos e industriales. Para ello  se ha preparado el siguiente programa (provisional):

1.- Introducción a la normalización GPS (Cristina Hernán, AENOR)

2.- Acotación funcional en 3D según la normativa GPS (Marian Sáenz, Universidad de Comillas)

3.- Rugosidad 3D en micro-nanometrología (Laura Carcedo, CEM).

4.- Mesa redonda

A principios de septiembre se abrirá el plazo de inscripción para los socios de la SIF, dado que el número de plazas está limitada. Cerrado el plazo de inscripción para los socios, si quedan plazas libres, se abrirá la inscripción a otros colectivos.

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